Trooper-BI 系列
Trooper BI 是一个具有多个晶圆卡盘的全自动老化测试系统,在晶圆级的碳化硅老化测试方面性能卓越。它允许多个晶圆同时老化,使用我们的精密主动校准台架系统,可自动将晶圆从晶盒搬运到卡盘。该设备可以支持从 6 英寸到 8 英寸的晶圆,并提供多探针测试,热卡盘温度高达 200°C。

Trooper-BI1
单卡盘 SiC 晶圆级老化测试系统

Trooper-BI1 是一款全自动单卡盘老化测试设备,为晶圆级碳化硅老化测试提供了卓越的性能。

单卡盘
碳化硅 (SiC) 功率器件
6, 8 英寸
晶圆盒(最多 2 个晶圆盒)
700~1800
700~1800
多达 20 个晶圆
Vth、IGSS、IGSS 和触点检查

Trooper-BI2
双卡盘 SiC 晶圆级老化测试系统

Trooper-BI2 是一款全自动双卡盘老化测试设备,通过我们的精密主动对准龙门架系统支持 2 个晶圆的同时老化,实现了晶圆从盒到卡盘的自动化转移。

双卡盘
碳化硅 (SiC) 功率器件
6, 8 英寸
晶圆盒(最多 2 个晶圆盒)
700~1800
1400~3600
多达 40 个晶圆
Vth、IGSS、IGSS 和触点检查

Trooper-BI4
四卡盘 SiC 晶圆级老化测试系统

Trooper-BI4 是一款全自动四卡盘老化测试设备,通过我们的精密主动对准龙门架系统支持 4 个晶圆的同时老化,实现了晶圆从盒到卡盘的自动化转移。

四卡盘
碳化硅 (SiC) 功率器件
6, 8 英寸
晶圆盒(最多 2 个晶圆盒)
700~1800
2800~7200
多达 80 个晶圆
Vth、IGSS、IGSS 和触点检查

Trooper-BI6
六卡盘 SiC 晶圆级老化测试系统

Trooper-BI6 是一款全自动六卡盘老化测试设备,通过我们的精密主动对准龙门架系统支持 6 个晶圆的同时老化,实现了晶圆从盒到卡盘的自动化转移。

Trooper-BI6 Hexa Chuck SiC Wafer-Level Burn-in System
六卡盘
碳化硅 (SiC) 功率器件
6, 8 英寸
晶圆盒(最多 2 个晶圆盒)
700~1800
4200
多达 120 个晶圆
Vth、IGSS、IGSS 和触点检查

Trooper-BI8-G
八卡盘 SiC 晶圆级老化测试系统

Trooper-BI8-G 是一款全自动八卡盘老化测试设备,通过我们的精密主动对准龙门架系统支持 8 个晶圆的同时老化,实现了晶圆从盒到卡盘的自动化转移。

Trooper-BI8G Octa Chuck SiC Wafer-Level Burn-in System
八卡盘
碳化硅 (SiC) 功率器件
6, 8 英寸
晶圆盒(最多 2 个晶圆盒)
4000
32000
多达 1304 个晶圆
触点检查、前 Vth、HTGB、后 Vth