PM52X-KGD 晶粒级测试处理器

它专为大批量单点或多点裸晶粒测试而设计,支持多种应用中的各种类型裸晶粒。 

华夫盒、晶圆环、去锥度
华夫托盘、晶圆重建、卷带
晶粒
交流测试、直流测试、环境至高温下的 UIS 测试
顶部检测: 表面外观、DUT 尺寸、2D 引线
底部检测: 表面外观、衬垫尺寸、衬垫外观
探针定位
定位口检测: 器件存在/不存在、器件定位